Deconvolution of Hot Carrier and Cold Carrier Injection in ZnO TFTs
Deconvolution of Hot Carrier and Cold Carrier Injection in ZnO TFTs
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ZnO TFT 中热载流子和冷载流子注入的解卷积
DOI：
10.1109/snw50361.2020.9131625
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Young, C.D.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Bolshakov, P.;Rodriguez-Davila, R.A.;Quevedo-Lopez, M.;Young, C.D.
