Half-life measurements of excited levels in 149Pr
Half-life measurements of excited levels in 149Pr
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149Pr 激发水平的半衰期测量
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Shibata
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Kojima;Y. Shima;H. Hayashi;A. Taniguchi;M. Shibata
