Simultaneous Atomic Imaging of Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy Using Metal Coated Cantilevers
Simultaneous Atomic Imaging of Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy Using Metal Coated Cantilevers
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使用金属涂层悬臂梁同时进行原子力显微镜和扫描隧道显微镜的原子成像
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Daisuke Sawada
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Sugimoto;T. Namikawa;M. Abe;S. Morita;Sascha Sadewasser;Oscar Custance;Daisuke Sawada;Daisuke Sawada
