In situ characterization of the XFEL probe beam intensity distribution by a high spatial resolution hard X-ray LiF crystal detector
In situ characterization of the XFEL probe beam intensity distribution by a high spatial resolution hard X-ray LiF crystal detector
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通过高空间分辨率硬 X 射线 LiF 晶体探测器对 XFEL 探测光束强度分布进行原位表征
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. R.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Pikuz;A. Faenov;A. Mitrofanov;B. Albertazzi;N. Ozaki;T. Matsuoka;O. M. R. Arturo;T. Yabuuchi;H. Habara;K. A. Tanaka;S. Matsuyama;K. Yamauchi;Y. Inubushi;T. Togashi;H. Yumoto;Y. Tange;K. Tono;M. Yabashi;M. Nishikino;T. Kawachi;M. R.
