New Surface Forces Apparatus Using Two-beam Interferometry
New Surface Forces Apparatus Using Two-beam Interferometry
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使用两光束干涉测量的新型表面力装置
DOI:
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发表时间:
2008
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
K. Kurihara
中科院分区:
文献类型:
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作者:
H. Kawai;H. Sakuma;M. Mizukami;T. Abe;Y. Fukao;H. Tajima;K. Kurihara
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DOI:
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发表时间:
2015
期刊:
影响因子:
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作者:
B. Shrestha;Qingyun Hu;Theodoros Baimpos;K. Kristiansen;J. Israelachvili;M. Valtiner
通讯作者:
M. Valtiner
影响因子:
16.6
作者:
Dong Woog Lee;K. Kristiansen;Stephen H. Donaldson Jr.;Nicholas A Cadirov;X. Banquy;J. Israelachvili
通讯作者:
J. Israelachvili
DOI:
10.1073/pnas.1708205114
发表时间:
2017-09-05
影响因子:
11.1
作者:
Merola, C.;Cheng, H. -W.;Valtiner, M.
通讯作者:
Valtiner, M.
影响因子:
3.3
作者:
Mugele, F;Baldelli, S;Salmeron, M
通讯作者:
Salmeron, M
影响因子:
2.1
作者:
K. Rodenhausen;M. Schubert
通讯作者:
M. Schubert