New Surface Forces Apparatus Using Two-beam Interferometry

New Surface Forces Apparatus Using Two-beam Interferometry
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使用两光束干涉测量的新型表面力装置

DOI:
--
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发表时间:
2008
期刊:
Rev. Sci. Instrum.
影响因子:
--
通讯作者:
K. Kurihara
K. Kurihara
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
H. Kawai;H. Sakuma;M. Mizukami;T. Abe;Y. Fukao;H. Tajima;K. Kurihara

文献摘要

参考文献

被引文献

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