Y.Takakuwa, F.Ishida: "Real-time monitoring o the growth and decomposition of SiO_2 layers on Si(001)by a combined method of RHEED and AES"J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 114-116. 401-407 (2001)
Y.Takakuwa, F.Ishida: "Real-time monitoring o the growth and decomposition of SiO_2 layers on Si(001)by a combined method of RHEED and AES"J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 114-116. 401-407 (2001)
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Y.Takakuwa，F.Ishida：“RHEED和AES组合方法实时监测Si(001)上SiO_2层的生长和分解”J。
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