「Time-of-Flight法によるキャリア移動度の測定」 日本液晶学会編「液晶科学実験講座－基礎と計測－」、第14章
「Time-of-Flight法によるキャリア移動度の測定」 日本液晶学会編「液晶科学実験講座－基礎と計測－」、第14章
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《利用飞行时间法测量载流子迁移率》，日本液晶学会编《液晶科学实验教程-基础与测量》第14章
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
舟橋正浩（分担）
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Nishikawa;A. Wachi;Y. Kudo;T. Shiga;H. Oshio;舟橋正浩（分担）
