Internal Photo-emission法によるGe02/Ge界面における伝導帯バンドオフセットの決定
Internal Photo-emission法によるGe02/Ge界面における伝導帯バンドオフセットの決定
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内光电发射法测定Ge02/Ge界面导带偏移
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
張文峰
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. E. Shirsath;Y. Yasukawa;X. Liu and A. Morisako;張文峰
