Ba導入nMOSFETsに対するBTS試験およびガンマ線照射

Ba導入nMOSFETsに対するBTS試験およびガンマ線照射
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Ba 引入的 nMOSFET 的 BTS 测试和伽马射线照射

DOI:
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发表时间:
2017
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
村岡幸輔,瀬崎洋,石川誠治,前田知徳,牧野高紘,大島武,黒木伸一郎
村岡幸輔,瀬崎洋,石川誠治,前田知徳,牧野高紘,大島武,黒木伸一郎
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
梶原純;黒木伸一郎;瀬崎洋;石川誠治,前田知徳; 牧野高紘;大島武;Mikael Ostling;and Carl-Mikael Zetterling;村岡幸輔,瀬崎洋,石川誠治,前田知徳,牧野高紘,大島武,黒木伸一郎

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