Observation of irreversible structural changes of surfaces and thin films with time-resolved X-ray reflectivity and diffraction
Observation of irreversible structural changes of surfaces and thin films with time-resolved X-ray reflectivity and diffraction
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利用时间分辨 X 射线反射率和衍射观察表面和薄膜的不可逆结构变化
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Tadashi Matsushita
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Wolfgang Voegeli;Etsuo Arakawa;Tetsuroh Shirasawa;Toshio Takahashi;Yohko F. Yano;Tadashi Matsushita
