Improved MEMS-in-TEM Setup for High Sensitivity Thermlal Characterization of Nanowire Using a New TEM Cryo-holder
Improved MEMS-in-TEM Setup for High Sensitivity Thermlal Characterization of Nanowire Using a New TEM Cryo-holder
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使用新型 TEM 冷冻支架改进 MEMS-in-TEM 设置，实现纳米线的高灵敏度热表征
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H. Fujita
中科院分区：
文献类型：
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作者：
L. Jalabert;G. Valet;A. Chorosz;D. Guo;R. Kometani;H. Guillou;T. Sato;S. Volz;H. Fujita
