Takuji Takahashi, Shiano Ono: "Sample-and-Hold Imaging for Fast Scanning in Atomic Force Microsopy"Jpn.J.Appl.Phys.. 43. L582 (2004)
Takuji Takahashi, Shiano Ono: "Sample-and-Hold Imaging for Fast Scanning in Atomic Force Microsopy"Jpn.J.Appl.Phys.. 43. L582 (2004)
复制标题
Takuji Takahashi、Shiano Ono：“原子力显微镜中快速扫描的采样保持成像”Jpn.J.Appl.Phys.. 43. L582 (2004)
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
