Iwama,K.: "Random benchmark circuits with controlled attributes" Proc.European Design & Test Conference and Exhibition (ED&TC'97). 90-97 (1997)
Iwama,K.: "Random benchmark circuits with controlled attributes" Proc.European Design & Test Conference and Exhibition (ED&TC'97). 90-97 (1997)
复制标题
Iwama,K.：“具有受控属性的随机基准电路”Proc.European Design
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
