物理的プラズマダメージによるMOSFETオフリーク電流とそのバラツキの増大モデル
物理的プラズマダメージによるMOSFETオフリーク電流とそのバラツキの増大モデル
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增加 MOSFET 关断漏电流的模型及其因物理等离子体损伤而产生的变化
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
斧高一
中科院分区：
文献类型：
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作者：
江利口浩二;鷹尾祥典;斧高一
