H.Yamazaki: "Internal Current Test Point Introduction to Improve VLSI Testability"Proc.Symposium on LSI Testing. 13-18 (1999)
H.Yamazaki: "Internal Current Test Point Introduction to Improve VLSI Testability"Proc.Symposium on LSI Testing. 13-18 (1999)
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H.Yamazaki：“内部电流测试点介绍以提高 VLSI 可测试性”Proc.LSI 测试研讨会。
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