Tokizawa, S., Ohno.Y.: "Sample preparation for observation with High Resolution Scanning Electron Microscope (HRSEM) by Ion-beam Sputter Coating"J.Min.Soc.Japan. 28. 65-69 (1999)
Tokizawa, S., Ohno.Y.: "Sample preparation for observation with High Resolution Scanning Electron Microscope (HRSEM) by Ion-beam Sputter Coating"J.Min.Soc.Japan. 28. 65-69 (1999)
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Tokizawa, S., Ohno.Y.：“通过离子束溅射涂层进行高分辨率扫描电子显微镜 (HRSEM) 观察的样品制备”J.Min.Soc.Japan。
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