「遺伝子技術に対する社会的受容意識の形成要因-「知識欠如モデル(DeficitModeD」の検証を中心に)」
「遺伝子技術に対する社会的受容意識の形成要因-「知識欠如モデル(DeficitModeD」の検証を中心に)」
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《基因技术社会接受度形成因素——聚焦‘DeficitModeD’模型验证》
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
土屋 敦
中科院分区：
文献类型：
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作者：
柴田和也;越塚誠一;谷澤克治;倉方 健作;倉方 健作;Kensaku KURAKATA;Kensaku KURAKATA;倉方健作;渡邊 有希;渡邊 有希;土屋 敦
