PIXE分析に伴う和紙試料の損傷のFT-IR測定
PIXE分析に伴う和紙試料の損傷のFT-IR測定
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与 PIXE 分析相关的日本纸样品损伤的 FT-IR 测量
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
小栗慶之，長谷川 純，福田一志，羽倉尚人
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Tomoya Aono.;Hodaka Kawahata.;Yuuji Soeda.;齋藤努;小栗慶之，小林泰智，長谷川 純，福田一志，羽倉尚人;青野友哉;齋藤努,村木二郎,反保元伸,大森信宏,土居内翔伍,橋本亜紀子,久保謙哉,竹下聡史,三宅康博;小栗慶之，長谷川 純，福田一志，羽倉尚人
