蛍光寿命測定の文化財材料への応用に関する基礎研究 1
蛍光寿命測定の文化財材料への応用に関する基礎研究 1
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荧光寿命测量在文化财产材料中应用的基础研究1
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
佐々木良子，吉田直人，佐々木健
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yoshiko SASAKI;Ryohei FUKAE;and Ken SASAKI;宇田津徹朗，石川隆二，佐藤雅志，山口聰，ドリアン・Q・フラー，田中克典;佐々木良子，吉田直人，佐々木健;田中克典，宇田津徹朗，石川隆二，佐藤雅志，山口聰，ドリアン・Q・フラー;佐々木良子，関地久治，仲政明，佐々木健;田中直子，佐々木良子;佐々木良子，行谷吉男，萩原理一，藤井健三，並木誠士，西村太良，佐々木健;佐々木良子，藤井健三，佐々木健;佐々木良子，吉田直人，佐々木健
