Simulation of nanoscale four-probe resistance measurements under finite bias voltages
Simulation of nanoscale four-probe resistance measurements under finite bias voltages
复制标题
有限偏置电压下纳米级四探针电阻测量的仿真
DOI：
--
复制
发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Satoshi Watanabe
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Asako Terasawa;Keiji Tobimatsu;Tomofiuni Tada;Takahiro Yamamoto;Satoshi Watanabe
