多層コーティングチップによる損耗速度計測
多層コーティングチップによる損耗速度計測
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使用多层涂层芯片测量磨损率
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
小林明
中科院分区：
文献类型：
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作者：
張科寅;横田茂;福島靖博;原健太郎;荒川義博;小紫公也;小林明
