K.Ohki: "In-situ Characterization of Thermal Stability and Depth Profile of Electronic Structure of Engineered Surfaces of c-axis YBa_2Cu_3O_<7-δ> films"Proc.EUCAS2003. (in press). (2004)
K.Ohki: "In-situ Characterization of Thermal Stability and Depth Profile of Electronic Structure of Engineered Surfaces of c-axis YBa_2Cu_3O_<7-δ> films"Proc.EUCAS2003. (in press). (2004)
复制标题
K.Ohki：“c 轴 YBa_2Cu_3O_<7-δ> 薄膜的工程表面的热稳定性和深度剖面的原位表征”Proc.EUCAS2003（印刷中）。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
