Mechanical Characterization of Floating Cell using Whole Chip Deformation Mechanism
Mechanical Characterization of Floating Cell using Whole Chip Deformation Mechanism
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使用全芯片变形机制对浮置电池进行机械表征
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Makoto Kaneko and Fumihito Arai
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Keitaro Ito;Shinya Sakuma;Makoto Kaneko and Fumihito Arai
