Nonradia- tive Recombination Property around Grain Boundary in Multicrystalline Silicon Mate- rials Studied by Photothermal Measure-ments in AFM
Nonradia- tive Recombination Property around Grain Boundary in Multicrystalline Silicon Mate- rials Studied by Photothermal Measure-ments in AFM
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利用AFM光热测量研究多晶硅材料晶界周围的非辐射复合特性
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K. Hara and T. Takahashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Hara and T. Takahashi
