T.Miyoshi: "Current noise in semiconductor nano-scale devices"SPIE International Symposium on Fluctuations and Noise, Conference 5470, Noise in Devices and Circuits. 5470-03(未定). (2004)
T.Miyoshi: "Current noise in semiconductor nano-scale devices"SPIE International Symposium on Fluctuations and Noise, Conference 5470, Noise in Devices and Circuits. 5470-03(未定). (2004)
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T.Miyoshi：“半导体纳米级器件中的电流噪声”SPIE 国际波动和噪声研讨会，会议 5470，器件和电路中的噪声 5470-03（待定）。
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