Stress state analysis of stress engineered BaTiO<sub>3</sub> thin film by LaNiO<sub>3</sub> bottom electrode
Stress state analysis of stress engineered BaTiO<sub>3</sub> thin film by LaNiO<sub>3</sub> bottom electrode
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LaNiO<sub>3</sub>底电极应力工程BaTiO<sub>3</sub>薄膜的应力状态分析
DOI：
10.2109/jcersj2.121.273
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发表时间：
2013
影响因子：
1.1
通讯作者：
Hisao Suzuki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Murakoshi;K. Fukamachi;N. Sakamoto;T. Ohno;T. Kiguchi;T. Matsuda;T. Konno;N. Wakiya;Hisao Suzuki
