Role of film properties in sub-threshold characteristics of zinc oxide thin-film transistors (ZnO TFTs)
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薄膜特性在氧化锌薄膜晶体管 (ZnO TFT) 亚阈值特性中的作用
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
鎌田雄大
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Motoko R.Kimura;Syuiti Abe;Katsutoshi Arai;Masakado Kawata;Hiroyuki Munehara;Yudai Kamada;木村幹子・河田雅圭・阿部周一・荒井克俊・宗原弘幸;Yudai Kamada;鎌田雄大;鎌田雄大;木村幹子・河田雅圭・阿部周一・荒井克俊・宗原弘幸;鎌田雄大;宗原弘幸;鎌田雄大
