Physical and Dielectric Properties of the Metal‐Silicon Dioxide‐Silicon System
Physical and Dielectric Properties of the Metal‐Silicon Dioxide‐Silicon System
复制标题
金属-二氧化硅-硅体系的物理和介电性能
DOI：
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发表时间：
1962
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
O. Wied
中科院分区：
文献类型：
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作者：
J. Sprague;J. Minahan;O. Wied
