基于应变率阶跃测试的晶体铜压入应变率敏感性研究
基于应变率阶跃测试的晶体铜压入应变率敏感性研究
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DOI:
10.7520/1001-4888-18-172
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发表时间:
2020
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
树学峰
中科院分区:
文献类型:
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作者:
杨煜;肖革胜;邢学刚;树学峰