Development of accurate characterization technique of electrical properties in Ge1-xSnx-based group-IV epitaxial layers
Development of accurate characterization technique of electrical properties in Ge1-xSnx-based group-IV epitaxial layers
复制标题
Ge1-xSnx 基 IV 族外延层电性能精确表征技术的发展
DOI：
--
复制
发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
and O. Nakatsuka
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
T. Mori;S. Shibayama;K. Nishizawa;M. Sakashita;M. Kurosawa;and O. Nakatsuka
