Study of surface roughness using spectral reflectance measurements recorded during the MOVPE of InAs/GaAs heterostructures
Study of surface roughness using spectral reflectance measurements recorded during the MOVPE of InAs/GaAs heterostructures
复制标题
使用 InAs/GaAs 异质结构 MOVPE 过程中记录的光谱反射测量研究表面粗糙度
DOI：
--
复制
发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
B. Jani
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
I. Massoudi;M. Habchi;A. Rebey;B. Jani
