The Impact of PZT Seed Layer on Microstructure, Dielectric and Ferroelectric Properties of 0.93PMN-0.07PT Thin Films
The Impact of PZT Seed Layer on Microstructure, Dielectric and Ferroelectric Properties of 0.93PMN-0.07PT Thin Films
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PZT籽晶层对0.93PMN-0.07PT薄膜微观结构、介电和铁电性能的影响
DOI：
10.1080/00150193.2010.483397
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
0.8
通讯作者：
Correia T
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Correia T
研究了PZT 30/70种子层作为成核助剂对0.93PMN-0.07PT薄膜微结构和电学性能的影响。烧绿石相在650°C的退火温度下完全消失。结果表明，晶种0.93PMN-0.07PT薄膜结构致密，晶粒尺寸较大，介电常数、自发极化强度和高温系数均高于未晶种薄膜。两种膜中的细P-E环和频率依赖性T_（mobserved）表明了类似弛豫的行为。
This paper investigated the effect of PZT30/70 seed layer as a nucleation aid on the microstructure and electrical properties of 0.93PMN-0.07PT thin films. Pyrochlore phase was totally eliminated at an annealing temperature as low as 650°C. Seeded 0.93PMN-0.07PT thin film possessed a denser structure, larger grain size, and thus higher permittivity, spontaneous polarization and pyrocoefficient than unseeded film. The slim P-E loops and the frequency dependentTmobserved in both films indicated a relaxor-like behavior.
单轴铁电弛豫系统中的磁畴尺寸效应：SrxBa1−xNb2O6 的情况
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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作者：
U. Voelker;Urs Heine;Christoph Gödecker;K. Betzler
通讯作者：
K. Betzler
新化学路线制备PMN-PT薄膜的合成与表征
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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作者：
M. Santiago;M. Stachiotti;R. Machado;N. Pellegri;O. de Sanctis
通讯作者：
O. de Sanctis