Stress test of cascode switch using SiC static induction transistor
Stress test of cascode switch using SiC static induction transistor
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使用SiC静电感应晶体管的共源共栅开关的应力测试
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K. Yano
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Matsumoto;Y. Tanaka; K. Yano
