Measuring Temperature Dependence of Critical Cracking Strain of Thin Films for Organic Light Emitting Diode
Measuring Temperature Dependence of Critical Cracking Strain of Thin Films for Organic Light Emitting Diode
复制标题
测量有机发光二极管薄膜临界断裂应变的温度依赖性
DOI：
--
复制
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Hideyuki Kanematsu and Tsuyoshi Masuda
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Toshiro Kobayashi;Munkhzul Munkhsog;Yuichi Utsumi;Hideyuki Kanematsu and Tsuyoshi Masuda
