Non-Destructive inspection of Solid Insulators Based On X-ray
Non-Destructive inspection of Solid Insulators Based On X-ray
复制标题
基于X射线的固体绝缘子无损检测
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A. Momose
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Hirai;A. Kumada ,K. Hidaka ,T. Kato;T. Yamagiwa;A. Momose
