高温雰囲気制御軟X線吸収分光測定によるLa2NiO4+δ緻密薄膜電極の電子状態評価
高温雰囲気制御軟X線吸収分光測定によるLa2NiO4+δ緻密薄膜電極の電子状態評価
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高温气氛控制软X射线吸收光谱评价La2NiO4+δ致密薄膜电极的电子态
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
川田達也
中科院分区：
文献类型：
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作者：
大池諒;雨澤浩史;為則雄祐;八代圭司;中村崇司;川田達也
