Two in One: The Development of Techniques to Allow a Single Top-hat Plasma Analyser to Detect Both Electrons and Ions, with a Single MCP Detector
Two in One: The Development of Techniques to Allow a Single Top-hat Plasma Analyser to Detect Both Electrons and Ions, with a Single MCP Detector
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二合一：技术的发展使单个顶帽等离子体分析仪能够通过单个 MCP 检测器同时检测电子和离子
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y. Saito
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Robert Bedington;Y. Saito
