X-ray Photoelectron Spectroscopy of Graphene/BiFeO3 Thin Film Structure by Photoemission Electron Microscopy
X-ray Photoelectron Spectroscopy of Graphene/BiFeO3 Thin Film Structure by Photoemission Electron Microscopy
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光电发射电子显微镜对石墨烯/BiFeO3 薄膜结构的 X 射线光电子能谱分析
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T. Ohkochi and H. Fujisawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Ito;S. Nakashima;T. Ohkochi and H. Fujisawa
