Binocular fringe projection profilometry for the metrology of meter-scale optical surfaces
Binocular fringe projection profilometry for the metrology of meter-scale optical surfaces
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用于米级光学表面计量的双目条纹投影轮廓测量法
DOI：
10.1364/optcon.485013
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Kim, Daewook
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Berkson, Joel;Hyatt, Justin;Kang, Hyukmo;Ordones, Sotero;Quach, Henry;Kim, Daewook
