X-ray Tomography in Industrial Metrology
X-ray Tomography in Industrial Metrology
复制标题
工业计量中的 X 射线断层扫描
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
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通讯作者：
H. Neumann
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Neumann
