Thickness dependence of dielectric constant of alumina films based on first-principles calculations
Thickness dependence of dielectric constant of alumina films based on first-principles calculations
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基于第一性原理计算的氧化铝薄膜介电常数的厚度依赖性
DOI:
10.1063/5.0106721
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发表时间:
2022
影响因子:
4
通讯作者:
Vashishta, Priya
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
Fukushima, Shogo;Kalia, Rajiv K.;Nakano, Aiichiro;Shimojo, Fuyuki;Vashishta, Priya
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影响因子:
9.7
作者:
Laturia, Akash;Van de Put, Maarten L.;Vandenberghe, William G.
通讯作者:
Vandenberghe, William G.
DOI:
--
发表时间:
2001
期刊:
影响因子:
--
作者:
D. A. Yarne;M. Tuckerman;G. Martyna
通讯作者:
G. Martyna
DOI:
10.1063/1.1806403
发表时间:
2004
期刊:
The Journal of chemical physics
影响因子:
--
作者:
P. Minary;Joseph A. Morrone;D. A. Yarne;M. Tuckerman;G. Martyna
通讯作者:
G. Martyna
DOI:
--
发表时间:
2003
期刊:
影响因子:
--
作者:
P. Umari;Alfredo Pasquarello
通讯作者:
Alfredo Pasquarello