ミューオン電子転換過程探索実験のための 8 GeV 遅い取り出しビーム試験
ミューオン電子転換過程探索実験のための 8 GeV 遅い取り出しビーム試験
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8 GeV慢引出束测试用于μ子-电子转换过程探索实验
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
冨澤正人
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Shinji Iida;Ikuo Fukuda;Junichi Higo ;Kota Kasahara;Takashi Kurosawa;Tadaaki Mashimo;Kiyotaka Misoo;Yoshinori Wakabayasi;Ryuta Murakami;Chisato Kanai;Yusuke Sugihara;Mitsuhito Wada;Hironori Nakamura;Yoshifumi Fukunishi;Ikuo Fukuda;福田育夫;Masahito Tomizawa;冨澤正人
