Structure and internal stress in ultra-thin silver films deposited on MgF2 and SiO substrates
Structure and internal stress in ultra-thin silver films deposited on MgF2 and SiO substrates
复制标题
MgF2 和 SiO 基底上沉积的超薄银薄膜的结构和内应力
DOI：
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发表时间：
1978
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
J. Mäser
中科院分区：
文献类型：
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作者：
R. Abermann;R. Kramer;J. Mäser
