UVラマン分光法による単結晶Si1-xSnxの歪換算係数導出
UVラマン分光法による単結晶Si1-xSnxの歪換算係数導出
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紫外拉曼光谱推导单晶Si1-xSnx应变转换系数
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
小椋厚志
中科院分区：
文献类型：
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作者：
横川凌;丹下龍志;黒澤昌志;小椋厚志
