ピクセル型高速STEM検出器を用いたSTEM-CBED法による局所構造解析
ピクセル型高速STEM検出器を用いたSTEM-CBED法による局所構造解析
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使用像素型高速 STEM 检测器使用 STEM-CBED 方法进行局部结构分析
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
近藤行人
中科院分区：
文献类型：
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作者：
津田健治;佐川隆亮;橋口裕樹;近藤行人
