Defect-Induced Charge Freezing on Epitaxial Fe_3O_4(001) Film Surfaces Studied by Spin・Polarized Scanning Tunneling Microscopy

Defect-Induced Charge Freezing on Epitaxial Fe_3O_4(001) Film Surfaces Studied by Spin・Polarized Scanning Tunneling Microscopy
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自旋·偏光扫描隧道显微镜研究外延 Fe_3O_4(001) 薄膜表面缺陷诱导电荷冻结

DOI:
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发表时间:
2005
期刊:
Jpn. J. Appl. Phys 44(7B)
影响因子:
--
通讯作者:
A.Subagyo
A.Subagyo
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
T.Takezaki;A.Subagyo;T.Takezaki;A.Subagyo;N.Uehara;T.Takezaki;A.Subagyo;H.Oka;A.Subagyo

文献摘要

参考文献

被引文献

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DOI: 10.1007/s003390100739
发表时间: 2001
期刊: Applied Physics A
影响因子: --
作者:
R. Koltun;M. Herrmann;G. Güntherodt;V. Brabers
通讯作者: V. Brabers