M.Yamada, T.Chu: "Inspection of residual strain in GaAs single crystal as standard ingot form"XIIth Semiconducting and Insulating Materials Conference (SIMC-XII-2002) IEEE EDS Conference Proceedings. (In press). (2003)
M.Yamada, T.Chu: "Inspection of residual strain in GaAs single crystal as standard ingot form"XIIth Semiconducting and Insulating Materials Conference (SIMC-XII-2002) IEEE EDS Conference Proceedings. (In press). (2003)
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M.Yamada、T.Chu：“作为标准铸锭形式的 GaAs 单晶中的残余应变的检查”第 XII 届半导体和绝缘材料会议 (SIMC-XII-2002) IEEE EDS 会议论文集。
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