橋詰富博: "Field Ion-Scanning tunneling Microscopy Study of C_<84> on the Si(100) surface" Jpn.J.Appl.Phys.Lett.32. L132-L134 (1993)
橋詰富博: "Field Ion-Scanning tunneling Microscopy Study of C_<84> on the Si(100) surface" Jpn.J.Appl.Phys.Lett.32. L132-L134 (1993)
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Tomihiro Hashizume：“Si(100) 表面上 C_<84> 的场离子扫描隧道显微镜研究”Jpn.J.Appl.Phys.Lett.32 (1993)。
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