High-resolution ARPES study of strain effects on the electronic structure of FeSe
High-resolution ARPES study of strain effects on the electronic structure of FeSe
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高分辨率 ARPES 研究应变对 FeSe 电子结构的影响
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T. Takahashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
G. N. Phan;K. Nakayama;Y. Miyata;K. Sugawara;T. Sato;Y. Tanabe;T. Urata;K. Tanigaki;F. Nabeshima;Y. Imai;A. Maeda;T. Takahashi
