New insights on atomic-resolution frequency-modulated Kelvin-probe force-microscopy imaging of semiconductors
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关于半导体原子分辨率调频开尔文探针力显微镜成像的新见解
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
S. Morita
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Sadewasser;P. Jelinek;C.-K. Fang;O. Custance;Y. Yamada;Y. Sugimoto;M. Abe;S. Morita
